優(yōu)爾鴻信可靠性實驗室擁有多種型號的高低溫試驗箱，如0.5m3、1m3、2m3、12m3等不同容量，可開展高溫試驗、低溫試驗、溫濕度循環(huán)試驗、高低溫存儲試驗等環(huán)境可靠性測試。

高溫可靠性測試

高溫試驗是將試樣暴露在高溫環(huán)境中進行的試驗，旨在考察高溫負載對試樣的影響，確定試樣在高溫負載條件下工作的適應性。這種試驗對于評估產品在長時間高溫條件下的性能和可靠性具有重要意義。

高溫試驗的技術指標

高溫試驗的主要技術指標包括：

溫度：試驗時的溫度值或溫度范圍。

時間：試驗持續(xù)的時間。

溫度上升速率：試驗溫度上升的速度。

高溫試驗的應用

高溫試驗廣泛應用于機械工程、實驗室儀器和裝置、氣候環(huán)境試驗設備等領域. 它不僅限于電子電氣產品，還包括汽車、航空航天、橡膠、塑料、金屬等多種材料和產品的測試. 通過高溫試驗，可以評估材料在高溫下的物理和化學性能（如熱膨脹系數(shù)、熱導率、耐熱性等）、機械性能（如強度、硬度和韌性）以及電子產品在高溫環(huán)境中的工作性能和壽命.

高溫可靠性測試標準

高溫試驗的標準包括但不限于：

GB/T 2423.2-2008《電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫》

GB/T 2423.2-2001《電工電子產品環(huán)境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫》

GB/T 2423.2，IEC 60068-2-2

GJB 150.3A-2009《裝備實驗室環(huán)境試驗方法 高溫試驗》

高溫試驗對產品的影響

高溫環(huán)境可能導致設備內部的填充物和密封條軟化或融化，殺菌劑粘度減少，電子電路穩(wěn)定性上升導致絕緣損毀，高分子材料和絕緣材料快速老化等。

高溫試驗是一種重要的可靠性試驗方法，對于評估產品在高溫環(huán)境下的性能和可靠性具有重要意義。廣泛應用于電子元器件、材料、機械設備等各類產品的質量控制和壽命預測中。通過模擬高溫環(huán)境，可以評估產品在長時間高溫條件下的性能和可靠性，為產品的研發(fā)、生產和質量控制提供有力支持。